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飛納電鏡用戶——華北科技學(xué)院金相實(shí)驗(yàn)室觀察各種合金材料中夾雜物相及其拉伸斷裂斷口形態(tài)，飛納電鏡能譜一體機(jī) Phenom ProX 配備的背散射電子和二次電子探頭可滿足該用戶所有待觀測(cè)樣品的測(cè)試需求。適用于科研領(lǐng)域、制造領(lǐng)域，可進(jìn)行非金屬夾雜物、低倍組織、晶粒度、斷口檢驗(yàn)、鍍層厚度、硬化層深度、脫碳層、灰口鑄鐵金相、球墨鑄鐵金相、PCB 金相切片分析、焊接件宏觀腐蝕觀察等工作。飛納電鏡操作簡(jiǎn)易，非常適合沒有掃描電鏡操作經(jīng)驗(yàn)的用戶。自動(dòng)馬達(dá)樣品臺(tái)配合光學(xué)導(dǎo)航，僅需 15s 的抽真空時(shí)間，可以方便快速地檢測(cè)樣品。能譜 EDS *的反卷積擬合功能使得定性和定量更加準(zhǔn)確可信。飛納電鏡 Phenom ProX 一定能夠充分發(fā)揮公共研發(fā)平臺(tái)的作用，促進(jìn)和提高相關(guān)技術(shù)創(chuàng)新，更好地為周邊高校及科研院所提供服務(wù)。