飛納掃描電鏡結(jié)合孔徑統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng),能夠輕松生成并分析掃描電鏡(SEM)圖像。一體化孔徑統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)能夠使用戶(hù)獲得孔徑的分布狀態(tài)、孔隙參數(shù)如孔徑尺寸和長(zhǎng)寬比。全自動(dòng)化的孔徑統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)提供超越光學(xué)顯微鏡觀察水平的結(jié)果,帶來(lái)進(jìn)一步的探索和創(chuàng)新。生成報(bào)告時(shí),可以把柱狀圖和生成的圖像以選定的格式輸出。
孔徑統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)使用戶(hù)更好地了解材料特性,可以提取出完整的孔徑詳細(xì)信息。孔徑統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)拉開(kāi)了孔徑測(cè)量軟件的大幕。在探究多孔結(jié)構(gòu)對(duì)材料孔隙率和過(guò)濾工藝的影響時(shí),這種分析尤其重要。
1)從飛納電鏡中直接獲取圖像
2)測(cè)量孔徑的屬性數(shù)據(jù),如面積、長(zhǎng)軸、短軸等
3)操作快捷方便,提高工作效率,使工作安排簡(jiǎn)單化可預(yù)測(cè)
4)圖像采集自由化,數(shù)據(jù)可存儲(chǔ)在網(wǎng)絡(luò)和 U 盤(pán),便于分享、交流和參閱
5)導(dǎo)出統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)時(shí),可同時(shí)導(dǎo)出清晰圖片
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